長沙武漢高低溫低氣壓試驗箱海拔真空測試箱，在高低溫低氣壓單項或同時作用下，進行貯存運輸可靠性試驗，并可同時對試件通電進行電氣性能參數的測試。

適用范圍：航空、航天、電子、、科(ke)研和其它工業部門確定電工的電子科(ke)技產(chan)品（包括(kuo)元器(qi)件、材料(liao)和儀器(qi)儀表）。

產(chan)品名稱(cheng)：高低(di)溫低(di)氣壓試(shi)驗箱

產(chan)品型號：GT-DQY-1000Z

技術參數：

1.工作室尺(chi)寸：GT-DQY-1000Z(1000×1000×1000)

2.溫度(du)范圍(wei)：-40～150℃

3.溫度偏(pian)差：±2℃

4.溫度(du)波動度(du)：±0.5℃

5.溫度均勻(yun)度：≤2℃

6.氣壓等(deng)級:4～84kpa

7.升溫速率 3.0℃/min

8.降溫速率(lv) 1.0℃/min

操作步驟：

1. 將試(shi)驗樣品連接(jie)好(hao)導線后(hou)放入箱內。

2. 連接好抽(chou)氣管(guan)道。

3. 關好(hao)箱(xiang)門，并打開(kai)真空泵(beng)，開(kai)始抽氣。

4. 當氣(qi)壓(ya)達到試驗大(da)氣(qi)壓(ya)時，關上抽氣(qi)閥。

5. 讓氣(qi)壓保持(chi)試驗規定(ding)時間。

6. 打開進氣閥門(men)，讓箱內氣壓(ya)回到正常值(zhi)。

7. 打開箱門，取(qu)出試驗樣品(pin)。產品(pin)原理及作(zuo)用

標準依據：

GB/T2423.4-2008  電工電子產品環境試(shi)(shi)驗(yan)第2部分：試(shi)(shi)驗(yan)方(fang)法試(shi)(shi)驗(yan)Db：交變濕熱（12h＋12h循環）

GB/T2423.22-2002  電工電子(zi)產品(pin)基(ji)本環節試(shi)驗規程，試(shi)驗N：溫度(du)變化試(shi)驗方法(fa)

GB/T5170.1-2008 電(dian)工電(dian)子產品(pin)環境(jing)試(shi)驗設備基本參數檢定(ding)方法總則

GJB150.3A-2009 裝(zhuang)備試(shi)驗(yan)室環境(jing)試(shi)驗(yan)方法（高溫試(shi)驗(yan)）

GJB150.4A-2009裝備(bei)試驗室環境(jing)試驗方(fang)法 （低溫試驗）

GJB150.9A-2009裝(zhuang)備試(shi)(shi)驗室環境試(shi)(shi)驗方法 （濕熱試(shi)(shi)驗）

GB/T2423.1-2008  電(dian)工電(dian)子產(chan)品環境試(shi)(shi)驗(yan)第2部分：試(shi)(shi)驗(yan)方法試(shi)(shi)驗(yan)A：低溫

GB/T2423.2-2008  電(dian)(dian)工電(dian)(dian)子產品環境試(shi)驗(yan)第2部分：試(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)試(shi)驗(yan)B：高溫(wen)

GB/T2423.3-2006  電工電子產品環境試(shi)驗第2部(bu)分：試(shi)驗方法試(shi)驗Cab：恒定濕(shi)熱試(shi)驗

GB2423.1-89  電工電子產品基本環境試(shi)驗(yan)規程 試(shi)驗(yan)A：低溫試(shi)驗(yan)方法

GB2423.2-89  電工電子(zi)產品基本(ben)環境試(shi)驗(yan)規程 試(shi)驗(yan)B：高溫試(shi)驗(yan)方法

GB10592-89   高低溫箱技術條件

GB11158      高溫試驗箱(xiang)技術條(tiao)件；

GB10589      低溫試(shi)驗箱技(ji)術條件；

GB10592      高低溫試(shi)驗箱技(ji)術(shu)條件

長沙武漢高低溫低氣壓試驗箱海拔真空測試箱，可根據客戶的要求設計客戶滿意的高低溫低氣壓試驗箱。